半导体参数测量仪

半导体参数测量仪（Semiconductor SourceMeter）

基本信息

型号：2450型

品牌：Keithley

规格参数

电压量程: 20mV – 200V

电流量程：10nA – 1A

基本准确度：0.012%

宽带噪声：2mVrms（典型值）

扫描类型：线性，对数，双线性，双对数，定制源存储器（2400 SCPI模式）

读数缓存>250,000；>3000读数/秒

SCPI编程：2400 + 2450 SCPI + TSP编程

GPIB, USB, 以太网(LXI)

前面板：香蕉插孔，后面板：三轴